雷達(dá)物位計(jì)廠家教選型
發(fā)布時(shí)間：2021-07-10 00:36:14
雷達(dá)物位計(jì)選型，除此之外，根據(jù)電磁波的特性，當(dāng)波束角確定時(shí)，物料形態(tài)及穩(wěn)定性；當(dāng)物料為固體或粉末狀態(tài)時(shí)，由于折射、漫散射等影響，使有效的回波減少，雜波增加。同樣，當(dāng)測量波動(dòng)表面時(shí)，也存在有效回波檢測困難的情況。
雷達(dá)物位計(jì) 措施；不論是介電常數(shù)還是物料形態(tài)穩(wěn)定性的問題，通過雷達(dá)的檢測原理即可確定，要保證測量的可靠性，必需減少信號衰減，增加有效回波數(shù)量。電磁波的頻率越高，在單位面積上積聚的能量越大，電磁波的衰減越小，從而雷達(dá)物位計(jì)的測量精度也就越高。因電磁波的回波時(shí)間不因介電常數(shù)的變化而變化，在實(shí)際運(yùn)用中，脈沖式雷達(dá)物位計(jì)采用的電磁波段主要為C段（低頻）和K段（高頻）兩種，兩者主要性能對比如表2。通常，波束角的大小與天線的尺寸成反比，天線越大，波束角越小，相同頻率的波在單位面積上聚集的能量也就越大。針對固體、粉末類介質(zhì)，且儲(chǔ)罐條件比較復(fù)雜的場合，在選擇高頻雷達(dá)的同時(shí)，應(yīng)采用大尺寸天線（例如拋物面天線）以提高測量精度。由于外界雜波的干擾對普通非接觸式雷達(dá)的信號判斷及處理能力提出很高的要求，采用導(dǎo)波雷達(dá)或者增加導(dǎo)波管（液體測量）的方式較好地解決了微波傳輸穩(wěn)定性的問題。僅為信號強(qiáng)度有差，所以導(dǎo)波式測量是低介電常數(shù)介質(zhì)物位測量的優(yōu)選方式。需綜合考慮介質(zhì)的介電常數(shù)、但隨著技術(shù)的發(fā)展，現(xiàn)已有應(yīng)用良好的24VDC兩線制產(chǎn)品，例如JKRD系列雷達(dá)物位計(jì)等。連續(xù)調(diào)頻式雷達(dá)物位計(jì)，因其獨(dú)特的信號分析處理技術(shù)，具有高靈敏度、良好的穩(wěn)定性和信號自動(dòng)校準(zhǔn)等優(yōu)點(diǎn)，被視為是復(fù)雜條件物位測量的優(yōu)選方案，特別適用于極度粉塵并伴有高溫場合以及超低介電常數(shù)介質(zhì)的物位測量。精度可達(dá)±0.5mm，測量范圍可達(dá)100m。由于采用調(diào)頻連續(xù)波技術(shù)，物位計(jì)功耗較大（5~10W），為常規(guī)脈沖式雷達(dá)物位計(jì)的10倍左右，常規(guī)采用220VAC四線制接線方式。料倉高度、物料形態(tài)及穩(wěn)定性等方面的因素，從而選擇確定物位計(jì)工作方式、微波頻率、波束角以及天線型式。
雷達(dá)物位計(jì)介電常數(shù)；由于電磁波的衰減系數(shù)與介質(zhì)的介電常數(shù)的平方根成反比，因此，被測介質(zhì)的介電常數(shù)越大，電磁波的衰減越少，物位計(jì)接受到的反射信號也就越強(qiáng)，即測量可以得到更好的保證。以JKRD系列雷達(dá)物位計(jì)為例，表1顯示，同型號雷達(dá)， 對于低介電常數(shù)介質(zhì)，其測量的量程范圍明顯縮小。特別針對A類介質(zhì)，普通的安裝方式甚至不能滿足測量要求。
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